여러 구성 요소들을 지나면서 신호가 감쇄되는 현상 _ 1
여러 구성 요소들을 지나면서 신호가 감쇄되는 현상 _ 2
신호가 Transmitter에서 Receiver로 전송되는 동안에, Jitter, Noise, Attenuation(감쇄) 현상이 발생하여 신호가 망가집니다. 여러 채널과 다양한 장치들을 통과하면서 위와 같이, 원래의 신호들은 상당히 왜곡됩니다. 수용가능한 수준으로 신호가 들어오는지 확인하기 위하여는 eye test가 필요합니다. eye test는 eye diagram을 보여주는데 eye diagram의 뜻은 아래와 같습니다.
eye diagram : 광 또는 전기 신호의 누적ㆍ중첩된 전압 파형을 시간축에서 나타낸 것으로 중첩된 출력파형의 모양이 눈과 같이 보여짐
조금 더 이해하기 쉽게 아래에 이해를 위한 3가지 그림을 가져왔습니다. Overshoot, Undershoot, Jitter, Noise margin, Peak ISI, Timing Error Sensitivity등을 확인할 수 있습니다. 모든 eye test에서는 만족해야하는 최소한의 크기를 지정해줍니다. 해당 크기를 만족하지 못하는 경우에는 eye test를 통과하지 못한 것으로 간주합니다.
eye diagram 을 설명하는 그림 _ 1
eye diagram 을 설명하는 그림 _ 2
eye diagram 을 설명하는 그림 _ 3
출처
- http://www.ktword.co.kr/word/abbr_view.php?m_temp1=887
- https://www.signalintegrityjournal.com/articles/358-ensuring-high-signal-quality-in-pcie-gen3-channels
- https://www.google.co.kr/url?sa=i&rct=j&q=&esrc=s&source=images&cd=&ved=2ahUKEwib6JnJ4tTmAhWC3mEKHYzaCSUQjhx6BAgBEAI&url=https%3A%2F%2Fwww.youtube.com%2Fwatch%3Fv%3DMd–uk47ZTQ&psig=AOvVaw2sImwAf1GqAq9IlsTUWCEm&ust=1577499472888764
- https://cnx.org/contents/2a23a7a1-f0f8-48f5-9feb-6248ef909f28@1/Intersymbol-Interference-ISI-and-the-Eye-Diagram
- https://m.blog.naver.com/PostView.nhn?blogId=supportkorea_ni&logNo=220952357319&proxyReferer=https%3A%2F%2Fwww.google.co.kr%2F